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Sistema Interamericano de Metrología (SIM)


El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) es resultado de un amplio acuerdo entre organizaciones nacionales de metrología de todas las 34 naciones-miembro de la Organización de los Estados Americanos (OEA).

 

Creado para promover la cooperación internacional, en particular la interamericana y regional en metrología, el SIM es comprometido con la ejecución de un Sistema Global de la medición en las Americas, para que todos los usuarios puedan tener confianza.


Próximos Eventos
31 mayo y 1 junio, Reunión CMWG en Argentina
24 y 25 de abril del 2012, Reunión de Planeamiento SIM

24 de abril del 2012, Reunión Consejo SIM

26 y 27 de abril del 2012, Reunión QSTF

Asamblea General SIM 2012, Costa Rica del 05 al 09 noviembre del 2012

Reuniones BIPM-JCRB
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INFOSIM sobre Metrologia Química
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